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| 电学测试的汞探针装置 | |
纪 刚; 孙国胜; 宁 瑾; 刘兴昉 ; 赵永梅; 王 雷; 赵万顺; 曾一平; 李晋闽
| |
| 2010-08-12 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2010-02-10 ; 2010-08-12 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 一种电学测试的汞探针装置，其特征在于，包括:一基座，该基座为扁平状的圆柱体，在基座的中心处纵向开有一细水银槽，在基座的中心处细水银槽的周围开有圆环形的水银槽;在基座的左侧圆柱体侧壁上开有一左水银槽，该左水银槽与圆环形的水银槽连通;与左水银槽相对的位置开有一右水银槽，该右水银槽与细水银槽垂直连通;与左、右水银槽垂直，在基座的上面分别开有一与左、右水银槽连通的左、右水银通道;一左推杆，该左推杆的一端插入在左水银槽内;一右推杆，该右推杆的一端插入在右水银槽内。 |
| 申请日期 | 2008-08-06 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 实质审查的生效 |
| 申请号 | CN200810118013.3 |
| 专利代理人 | 汤保平:中科专利商标代理有限责任公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/13388 |
| 专题 | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 纪 刚,孙国胜,宁 瑾,等. 电学测试的汞探针装置[P]. 2010-08-12. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
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