在本征砷化镓表面77K以下实现欧姆接触的方法
谈笑天; 郑厚植; 刘 剑; 杨富华
2010-08-12
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2010-03-17 ; 2010-08-12
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种在本征砷化镓表面温度77K以下实现欧姆接触的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:在制备好的GaAs基片上进行涂胶、均胶、前烘、光刻、显影;步骤2:将显影后的GaAs基片置入氧离子轰击炉中,对基片轰击;步骤3:将轰击后的基片浸入semico-clean-23溶液,时间2分钟;步骤4:用去离子水冲洗基片,并用温氮气吹干;步骤5:再将基片浸入1∶1的盐酸溶液中5秒后,用去离子水冲洗基片,并用温氮气吹干;步骤6:将基片放入金属蒸发炉内,并立即对蒸发炉系统开始抽真空,在基片上淀积金属;步骤7:将基片从金属蒸发炉中取出,用丙酮进行剥离,经乙醇、去离子水清洗后,用温氮气吹干;步骤8:将淀积完金属的基片退火,完成制作。
申请日期2008-09-10
语种中文
专利状态实质审查的生效
申请号CN200810119798.6
专利代理人汤保平:中科专利商标代理有限责任公司
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/13362
专题中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
谈笑天,郑厚植,刘 剑,等. 在本征砷化镓表面77K以下实现欧姆接触的方法[P]. 2010-08-12.
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