Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法 | |
杨晓红 ; 韩 勤; 提刘旺
| |
| 2010-08-12 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2010-03-31 ; 2010-08-12 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明公开了一种在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法。该方法是将标准器件与被测器件置于可精确控制温度的具有光窗口的真空杜瓦内，光信号可以通过光窗口出入杜瓦，被测器件与标准器件进行对比即可得到被测器件光电参数。该装置及方法可以测试光电器件在一定高低温范围内的光电参数，采用了具有光窗口的真空杜瓦作为器件测试环境，将器件置于真空杜瓦内真空腔的热沉上，热沉与冷源和热源相连接，光电器件的输出信号线与腔外测试系统相连。利用本发明，降低了在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的复杂性，提高了测试的精确度，解决了温度过低时光窗口结霜的问题。 |
| 申请日期 | 2008-09-27 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 实质审查的生效 |
| 申请号 | CN200810223611.7 |
| 专利代理人 | 周国城:中科专利商标代理有限责任公司 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/13346 |
| 专题 | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨晓红,韩 勤,提刘旺. 在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法[P]. 2010-08-12. |
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| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
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