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无权访问的条目 期刊论文
Authors:  Mengxi Luo;   DeGui Sun;   Na Sun;   Yuan Hu;   Kaiping Zhang;   Desong Wang;   Yan Li;   Bo Xing;   Yeming Xu;   Di Wu
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无权访问的条目 期刊论文
Authors:  Xin Ning ;   Weijun Li;   Bo Tang;   Member,IEEE;   Haibo He ;   Fellow,IEEE
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新型二维半导体的气相合成及光电性能研究 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2017
Authors:  黎博
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基于视觉芯片的编带内芯片外观缺陷检测系统 学位论文
, 北京: 中国科学院研究生院, 2015
Authors:  李搏
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无权访问的条目 期刊论文
Authors:  Ye, Huaiyu;  Li, Bo;  Tang, Hongyu;  Zhao, Jia;  Yuan, Cadmus;  Zhang, Guoqi
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一种芯片封装外观缺陷检测系统及方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
Inventors:  李搏;  吴南健;  刘剑;  杨永兴;  杨杰
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一种芯片外观缺陷检测系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
Inventors:  李搏;  吴南健;  刘剑;  杨永兴;  杨杰
Adobe PDF(203Kb)  |  Favorite  |  View/Download:266/1  |  Submit date:2016/08/30