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光弹调制测量系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:  张宏毅;  陈涌海;  高寒松
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半导体材料微区应力测试系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-09-18
发明人:  高寒松;  陈涌海;  张宏毅;  刘雨
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材料的微区应力测试系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2014-07-23
发明人:  高寒松;  陈涌海;  刘雨;  张宏毅;  黄威;  朱来攀;  李远;  邬庆
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一种微区荧光扫描测量系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:  秦旭东;  张宏毅;  叶小玲;  陈涌海
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