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一种线性及非线性磁光克尔测量系统 专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201010106771.0, 公开日期: 2011-08-30
发明人:  张新惠;  朱永刚
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双色、微区反射式瞬态光谱测量系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-09-28
发明人:  闫腾飞;  牛秉慧;  高海霞;  李杭;  闫炜;  历巧巧;  张新惠
Adobe PDF(316Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：585/3  |  提交时间：2016/09/28