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测量电致自旋荧光的显微测量系统 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2009-11-18, 公开日期: 4013
发明人:  肖文波;  郑厚植
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光学自旋注入方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2009-10-21, 公开日期: 4010
发明人:  张 飞;  郑厚植;  肖文波;  谈笑天;  孙晓明;  吴 昊;  朱 科;  罗 晶 
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Tan XT;  Zheng HZ;  Liu J;  Zhu H;  Xu P;  Li GR;  Yang FH;  Zheng HZ Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Microstruct & Superlattices POB 912 Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: hzzheng@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Sun XM;  Zhang H;  Zhu H;  Xu P;  Li GR;  Liu J;  Zheng HZ;  Sun XM Chinese Acad Sci State Key Lab Microstruct & Superlattices Inst Semicond POB 912 Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: hzzheng@semi.ac.cn
Adobe PDF(150Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:1231/358  |  提交时间:2010/03/08