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作者:  Zhang WC (Zhang Wancheng);  Wu NH (Wu Nan-Han);  Zhang, WC, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: zhangwc@red.semi.ac.cn;  nanjian@red.semi.ac.cn
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作者:  Zhang WC (Zhang Wancheng);  Nishiguchi K (Nishiguchi Katsuhiko);  Ono Y (Ono Yukinori);  Fujiwara A (Fujiwara Akira);  Yamaguchi H (Yamaguchi Hiroshi);  Inokawa H (Inokawa Hiroshi);  Takahashi Y (Takahashi Yasuo);  Wu, NJ (Wu, Nan-Jian);  Zhang, WC, NTT, Basic Res Labs, Atsugi, Kanagawa 2430198, Japan. 电子邮箱地址: knishi50@aecl.ntt.co.jp
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作者:  Zhang WC (Zhang Wancheng);  Wu NJ (Wu Nan-Jian);  Hashizume T (Hashizume Tamotsu);  Kasai, S (Kasai, Seiya);  Zhang, WC, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruc, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: zhangwc@red.semi.ac.cn;  nanjian@red.semi.ac.cn
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