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鉴别样品是否含有微小半导体碳纳米管束的方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-11-19, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  谭平恒;  张俊;  李桂荣
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提高半导体型碳纳米管发光效率的方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-11-19, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  谭平恒;  张俊;  李桂荣
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共焦显微中远红外探测器光谱响应测量系统 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-06-25, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  朱汇;  郑厚植;  谭平恒;  章昊;  甘华东;  孙晓明;  李桂荣
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Xiao, WB;  Zheng, HZ;  Liu, J;  Li, GR;  Zhao, JH;  Xiao, WB, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: hzzheng@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhang, F;  Zheng, HZ;  Ji, Y;  Li, GR;  Zhang, F, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: hzzheng@red.semi.ac.cn
Adobe PDF(468Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：917/208  |  提交时间：2010/03/08
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhang, F;  Zheng, HZ;  Ji, Y;  Liu, J;  Li, GR;  Zhang, F, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: hzzheng@red.semi.ac.cn
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