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一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2008-06-11, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  甘华东;  郑厚植;  孙宝权;  赵建华
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Lu J;  Bi JF;  Wang WZ;  Gan HD;  Meng HJ;  Deng JJ;  Zheng HZ;  Zhao JH;  Zhao JH Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Lab Superlattices & Microstruct Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: jhzhao@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  周蓉;  孙宝权;  阮学忠;  甘华东;  姬扬;  王玮竹;  赵建华
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Deng JJ;  Zhao JH;  Tan PH;  Bi JF;  Gan HD;  Niu ZC;  Wu XG;  Zhao, JH, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. E-mail: jhzhao@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Gan HD;  Zheng HZ;  Deng JJ;  Bi JF;  Zhu H;  Ji Y;  Tan PH;  Yang FH;  Zhao JH;  Gan, HD, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: hdgan@red.semi.ac.cn;  hzzheng@red.semi.ac.cn
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Growth Parameter Dependence of Structural Characterizations of Diluted Magnetic Semiconductor (Ga, Cr)As 会议论文
IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS, Madrid, SPAIN, MAY 04-08, 2008
作者:  Lu J;  Bi JF;  Wang WZ;  Gan HD;  Meng HJ;  Deng JJ;  Zheng HZ;  Zhao JH;  Zhao, JH, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlattices & Microstruct, Beijing 100083, Peoples R China.
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Magnetic Analysis