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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Gao, HS;  Liu, Y;  Zhang, HY;  Wu, SJ;  Jiang, CY;  Yu, JL;  Zhu, LP;  Li, Y;  Huang, W;  Chen, YH
Adobe PDF(649Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：596/145  |  提交时间：2015/03/19
无权访问的条目 期刊论文
作者:  Guo Y (Guo Yan);  Liu XL (Liu Xiang-Lin);  Song HP (Song Hua-Ping);  Yang AL (Yang An-Li);  Zheng GL (Zheng Gao-Lin);  Wei HY (Wei Hong-Yuan);  Yang SY (Yang Shao-Yan);  Zhu QS (Zhu Qin-Sheng);  Wang ZG (Wang Zhan-Guo);  Guo, Y, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. E-mail Address: guoyan@semi.ac.cn;  xlliu@semi.ac.cn
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光弹调制测量系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:  张宏毅;  陈涌海;  高寒松
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半导体材料微区应力测试系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-09-18
发明人:  高寒松;  陈涌海;  张宏毅;  刘雨
Adobe PDF(527Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：688/104  |  提交时间：2014/11/17
材料的微区应力测试系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2014-07-23
发明人:  高寒松;  陈涌海;  刘雨;  张宏毅;  黄威;  朱来攀;  李远;  邬庆
Adobe PDF(513Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：918/117  |  提交时间：2014/11/24