SEMI OpenIR

浏览/检索结果: 共1条,第1-1条 帮助

限定条件    
已选(0)清除 条数/页:   排序方式:
带有外加磁场的深能级测量样品架装置 专利
专利类型: 实用新型, 申请日期: 2004-10-06, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  卢励吾;  张砚华;  葛惟昆
Adobe PDF(267Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:1121/187  |  提交时间:2009/06/11