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适用于激光共聚焦测量装置的光学窗口片 专利
专利类型: 实用新型, 申请日期: 2010-08-12, 公开日期: 2010-01-13, 2010-08-12
Inventors:  杨晋玲;  周美强;  周 威;  唐龙娟;  朱银芳;  杨富华
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微机电系统薄膜材料力学性能与可靠性测试方法和装置 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2009-09-02, 公开日期: 4005
Inventors:  杨晋玲;  周 威;  杨富华 
Adobe PDF(953Kb)  |  Favorite  |  View/Download:1032/205  |  Submit date:2010/03/19