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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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研究单元&专题
中国科学院半导体研究... [5]
半导体材料科学中心 [1]
作者
金鹏 [1]
文献类型
会议论文 [6]
发表日期
2010 [2]
2006 [4]
语种
英语 [6]
出处
MATERIALS ... [2]
JOURNAL OF... [1]
JOURNAL OF... [1]
资助项目
收录类别
CPCI(ISTP) [6]
资助机构
Chinese As... [1]
Natl Nat S... [1]
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期刊影响因子降序
Donor defect in P-diffused bulk ZnO single crystal
会议论文
, Rio de Janeiro, BRAZIL, 2009
作者:
Zhao YW (Zhao Youwen)
;
Zhang R (Zhang Rui)
;
Zhang F (Zhang Fan)
;
Dong ZY (Dong Zhiyuan)
;
Yang J (Yang Jun)
;
Zhao, YW, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China
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提交时间:2010/10/11
Zinc Oxide
Doping
Defect
STUDY OF MICROSTRUCTURE AND DEFECTS IN HYDROGENATED MICROCRYSTALLINE SILICON FILMS
会议论文
, Philadelphia, PA, 2009
作者:
Peng WB (Peng Wenbo)
;
Zeng XB (Zeng Xiangbo)
;
Liu SY (Liu Shiyong)
;
Xiao HB (Xiao Haibo)
;
Kong GL (Kong Guanglin)
;
Yu YD (Yu Yude)
;
Liao XB (Liao Xianbo)
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提交时间:2010/08/16
Growth of ZnO single crystal by chemical vapor transport method
会议论文
JOURNAL OF RARE EARTHS, Beijing, PEOPLES R CHINA, OCT 16-19, 2005
作者:
Zhou, JM
;
Dong, ZY
;
Wei, XC
;
Duan, ML
;
Li, JM
;
Zhou, JM, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: zhaoyw@red.semi.ac.cn
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提交时间:2010/03/29
Zinc Oxide
Development of current-based microscopic defect analysis method using optical filling techniques for the defect study on heavily irradiated high-resistivity Si sensors/detectors
会议论文
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, Beijing, PEOPLES R CHINA, SEP 13-19, 2005
作者:
Li, Z (Li, Z.)
;
Li, CJ (Li, C. J.)
;
Li, Z, Brookhaven Natl Lab, Upton, NY 11973 USA. 电子邮箱地址: zhengl@bnl.gov
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提交时间:2010/03/29
Dlts
Temperature and power-density-dependent inter-shell energy states in InAs/GaAs quantum dots
会议论文
JOURNAL OF LUMINESCENCE, Shanghai, PEOPLES R CHINA, AUG 01-05, 2005
作者:
Wang FZ
;
Chen ZH
;
Sun J
;
Bai LH
;
Huang SH
;
Xiong H
;
Jin P
;
Wang ZG
;
Shen SC
;
Chen, ZH, Fudan Univ, Dept Phys, Surface Phys Lab, Shanghai 200433, Peoples R China. 电子邮箱地址: zhanghai@fudan.edu.cn
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提交时间:2010/03/29
Quantum Dots
Morphological defects and uniformity issues of 4H-SiC homoepitaxial layers grown on off-oriented (0001)Si faces
会议论文
MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING, Beijing, PEOPLES R CHINA, SEP 13-19, 2005
作者:
Sun, GS (Sun, G. S.)
;
Liu, XF (Liu, X. F.)
;
Gong, QC (Gong, Q. C.)
;
Wang, L (Wang, L.)
;
Zhao, WS (Zhao, W. S.)
;
Li, JY (Li, J. Y.)
;
Zeng, YP (Zeng, Y. P.)
;
Li, JM (Li, J. M.)
;
Sun, GS, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: gshsun@red.semi.ac.cn
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提交时间:2010/03/29
4h-sic