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基于数学形态学的量子点检测方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2012-12-19
发明人:  徐露露;  鲁华祥;  边昳;  陈旭;  龚国良;  刘文鹏;  张放;  金敏;  陈刚
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基于SOBI及FastICA的同频信号相位差测量方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2012-10-24
发明人:  龚国良;  鲁华祥;  边昳;  陈旭;  陈刚;  张放;  金敏;  徐元
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电力绝缘设备性能测量及电流传感器固有相移测量方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-08-14
发明人:  张放;  鲁华祥;  龚国良;  陈刚;  金敏;  边昳
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电力绝缘设备性能测量及电流传感器固有相移测量方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-08-14
发明人:  张放;  鲁华祥;  龚国良;  陈刚;  金敏;  边昳
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一种固体籽粒的自动检测与分选系统及方法 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2014-01-22
发明人:  陈绍江;  李卫军;  董肖莉;  刘金;  覃鸿;  郭婷婷;  田震;  张丽萍;  张垚
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一种固体籽粒的自动检测与分选系统 专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-07-09
发明人:  陈绍江;  李卫军;  董肖莉;  刘金;  覃鸿;  郭婷婷;  田震;  张丽萍;  张垚
Adobe PDF(534Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：1034/117  |  提交时间：2014/11/03