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一种控温的半导体光电特性测试样品架 专利
专利类型: 实用新型, 申请日期: 1999-07-28, 公开日期: 2009-06-04, 2009-06-11
发明人:  张砚华;  卢励吾
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Ho WY;  Fong WK;  Surya C;  Tong KY;  Lu LW;  Ge WK;  Ho WY,Hong Kong Polytech Univ,Dept Elect Engn,Hong Kong,Peoples R China. 电子邮箱地址: ensurya@polyu.edu.hk
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  卢励吾;  张砚华;  Ge Weikun;  Ho W Y;  Surya Charles;  Tongc K Y
Adobe PDF(131Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:1107/247  |  提交时间:2010/11/23