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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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出处
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Choice of calibration equations of the TSM method
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Wang YL
;
Chen ZY
;
Zhu NH
;
Wang YL CAS Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Network Analyzer
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Network-analyzer Calibration
Test Fixtures
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期刊论文
作者:
Zhu NH
;
Liu Y
;
Pun EYB
;
Chung PS
;
Zhu NH,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Natl Res Ctr Optoelect Technol,State Key Lab Integrated Optoelect,POB 912,Beijing 100083,Peoples R China.
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提交时间:2010/08/12
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期刊论文
作者:
Zhu NH
;
Chen ZY
;
Wang YL
;
Zhu NH,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,State Key Lab Integrated Optoelect,POB 912,Beijing 100083,Peoples R China.
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期刊论文
作者:
Zhu NH
;
Auracher F
;
Zhu NH,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Beijing 100083,Peoples R China.
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期刊论文
作者:
Zhu NH
;
Zhu NH,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Beijing 100083,Peoples R China.
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提交时间:2010/08/12