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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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Measurement and analysis of microwave frequency response of semiconductor optical amplifiers - art. no. 682406
会议论文
SEMICONDUCTOR LASERS AND APPLICATIONS III, Beijing, PEOPLES R CHINA, NOV 12-13, 2007
作者:
Liu, J
;
Zhang, SJ
;
Hu, YH
;
Xie, L
;
Huang, YZ
;
Zhu, NH
;
Liu, J, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Integrated Optoelect, Beijing 100083, Peoples R China.
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提交时间:2010/03/09
Semiconductor Optical Amplifier
Microwave Frequency Response
Direct-subtracting Method
Vector Network Analyzer
Multisectional Model
Rate Equation
Steady State
Small-signal State
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Silvonen K
;
Zhu NH
;
Liu Y
;
Silvonen, K, Helsinki Univ Technol, Circuit Theory Lab, FIN-02015 Helsinki, Finland. E-mail: kimmo.silvonen@tkk.fi
;
nhzhu@red.semi.ac.cn
;
yliusemi@hotmail.com
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浏览/下载:1110/451
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提交时间:2010/04/11
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhu NH
;
Qian C
;
Wang YL
;
Pun EYB
;
Chung PS
;
Zhu NH,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,State Key Lab Integrated Optoelect,Beijing 100083,Peoples R China.
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浏览/下载:1034/273
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提交时间:2010/08/12
Two-port calibration of test fixtures with OSL method.
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Chen ZY
;
Wang YL
;
Liu Y
;
Zhu NH
;
Chen ZY CAS Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect Beijing 100083 Peoples R China.
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浏览/下载:1691/408
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Microwave Network Analyzer
Scattering-parameter Measurement
Phase Uncertainty
Network-analyzer Calibration
Line
Choice of calibration equations of the TSM method
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Wang YL
;
Chen ZY
;
Zhu NH
;
Wang YL CAS Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect POB 912 Beijing 100083 Peoples R China.
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浏览/下载:1309/276
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Network Analyzer
Frequency Limitation
Scattering-parameter Measurement
Network-analyzer Calibration
Test Fixtures
Frequency limitation in calibrating microwave test fixtures
会议论文
2002 3RD INTERNATIONAL CONFERENCE ON MICROWAVE AND MILLIMETER WAVE TECHNOLOGY PROCEEDINGS, BEIJING, PEOPLES R CHINA, AUG 17-19, 2002
作者:
Qian C
;
Wang YL
;
Chen ZY
;
Zhu NH
;
Qian C CAS State Key Lab Integrated Optoelect Inst Semicond Beijing 100083 Peoples R China.
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浏览/下载:1332/222
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提交时间:2010/10/29
Calibration
Microwave Network Analyzer
Scattering-parameter Measurement
Phase Uncertainty
Network-analyzer Calibration
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhen YC
;
You LW
;
Yu L
;
Ning HZ
;
Zhen YC,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,State Key Lab Integrated Optoelect,Beijing 100083,Peoples R China.
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浏览/下载:718/221
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提交时间:2010/08/12
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhu NH
;
Liu Y
;
Pun EYB
;
Chung PS
;
Zhu NH,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Natl Res Ctr Optoelect Technol,State Key Lab Integrated Optoelect,POB 912,Beijing 100083,Peoples R China.
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浏览/下载:1030/401
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提交时间:2010/08/12
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhu NH
;
Chen ZY
;
Wang YL
;
Zhu NH,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,State Key Lab Integrated Optoelect,POB 912,Beijing 100083,Peoples R China.
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浏览/下载:1285/233
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提交时间:2010/08/12
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhu NH
;
Auracher F
;
Zhu NH,Chinese Acad Sci,Inst Semicond,Beijing 100083,Peoples R China.
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提交时间:2010/08/12