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中国科学院半导体研究所机构知识库
Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
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中科院半导体材料科... [10]
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专利 [5]
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2014 [5]
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专题:中科院半导体材料科学重点实验室
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期刊论文
作者:
Zhu, LP
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Liu, Y
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Jiang, CY
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Qin, XD
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Li, Y
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Gao, HS
;
Chen, YH
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浏览/下载:549/123
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提交时间:2015/03/19
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Gao, HS
;
Liu, Y
;
Zhang, HY
;
Wu, SJ
;
Jiang, CY
;
Yu, JL
;
Zhu, LP
;
Li, Y
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Huang, W
;
Chen, YH
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浏览/下载:596/145
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提交时间:2015/03/19
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhu, LP
;
Liu, Y
;
Jiang, CY
;
Yu, JL
;
Gao, HS
;
Ma, H
;
Qin, XD
;
Li, Y
;
Wu, Q
;
Chen, YH
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浏览/下载:537/120
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提交时间:2015/03/20
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Li, Y
;
Liu, Y
;
Jiang, CY
;
Zhu, LP
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Qin, XD
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Gao, HS
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Ma, WQ
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Guo, XL
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Zhang, YH
;
Chen, YH
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提交时间:2015/03/25
无权访问的条目
期刊论文
作者:
Zhu, LP
;
Liu, Y
;
Gao, HS
;
Qin, XD
;
Li, Y
;
Wu, Q
;
Chen, YH
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浏览/下载:426/96
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提交时间:2015/03/25
光弹调制测量系统
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2016-08-30
发明人:
张宏毅
;
陈涌海
;
高寒松
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浏览/下载:653/2
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提交时间:2016/08/30
在图形化的半导体衬底上制作有序半导体纳米结构的方法
专利
专利类型: 发明, 专利号: CN201010140985.X, 公开日期: 2011-08-31, 2011-08-31, 2011-08-31
发明人:
陈涌海
;
刘建庆
;
高云
;
徐波
;
张兴旺
;
王占国
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浏览/下载:1186/34
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提交时间:2011/08/31
半导体材料微区应力测试系统
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-09-18
发明人:
高寒松
;
陈涌海
;
张宏毅
;
刘雨
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浏览/下载:792/104
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提交时间:2014/11/17
一种测量半导体材料弹光系数的装置及方法
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2013-09-04
发明人:
武树杰
;
陈涌海
;
刘雨
;
高寒松
;
俞金玲
Adobe PDF(950Kb)
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浏览/下载:886/88
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提交时间:2014/11/17
材料的微区应力测试系统
专利
专利类型: 发明, 公开日期: 2014-07-23
发明人:
高寒松
;
陈涌海
;
刘雨
;
张宏毅
;
黄威
;
朱来攀
;
李远
;
邬庆
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浏览/下载:1023/117
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提交时间:2014/11/24