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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Han W;  Zhu NH;  Xie L;  Ren M;  Sun K;  Zhang BH;  Li L;  Zhang HG;  Han W Chinese Acad Sci Inst Semicond State Key Lab Integrated Optoelect Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: whan@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Cheng BC;  Tian BX;  Sun W;  Xiao YH;  Lei SJ;  Wang ZG;  Cheng BC Nanchang Univ Inst Adv Studying Nanchang 330031 Peoples R China. E-mail Address: bcheng@vip.sina.com
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Kong DH;  Zhu HL;  Liang S;  Zhang HG;  Sun Y;  Wang H;  Zhang W;  Zhao LJ;  Kong DH Chinese Acad Sci Inst Semicond Key Lab Semicond Mat Sci POB 912 Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: kdh@semi.ac.cn;  Liangsong@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Cheng YB;  Wang Y;  Sun Y;  Pan JQ;  Bian J;  An X;  Zhao LJ;  Wang W;  Cheng YB Chinese Acad Sci Key Lab Semicond Mat Sci Inst Semicond POB 912 Beijing 100083 Peoples R China. E-mail Address: ybcheng@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jlyang@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Ruan, XZ;  Sun, BQ;  Ji, Y;  Yang, W;  Zhao, JH;  Xu, ZY;  Ruan, XZ, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, State Key Lab Superlatt & Microstruct, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: jiyang@red.semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Chen DB;  Zhu HL;  Liang S;  Wang BJ;  Zhang YL;  Liu Y;  Kong DH;  Zhang W;  Wang H;  Wang LS;  Sun Y;  Zhang YX;  Chen, DB, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: boydchen@semi.ac.cn
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无权访问的条目 期刊论文
作者:  Yu, LK;  Xu, B;  Wang, ZG;  Jin, P;  Zhao, C;  Lei, W;  Sun, J;  Hu, LJ;  Yu, LK, Chinese Acad Sci, Inst Semicond, Key Lab Semicond Mat Sci, PO Box 912, Beijing 100083, Peoples R China. 电子邮箱地址: yulike@rcd.semi.ac.cn
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Fracture properties of silicon carbide thin films charcterized by bulge test of long membranes 会议论文
2008 3RD IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON NANO/MICRO ENGINEERED AND MOLECULAR SYSTEMS, Sanya, PEOPLES R CHINA, JAN 06-09, 2008
作者:  Zhou, W;  Yang, JL;  Sun, GS;  Liu, XF;  Yang, FH;  Li, JM;  Zhou, W, CAS, Inst Semicond, Beijing 100864, Peoples R China.
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Bulge Test Fracture Property  Silicon Carbide Thin Films  Weibull Distribution Function  
Fabrication and Investigation of High Efficiency Evanescently Coupled Uni-Traveling Carrier Photodiodes 会议论文
2008 IEEE PHOTONICSGLOBAL@SINGAPORE (IPGC), Singapore, SINGAPORE, DEC 08-11, 2008
作者:  Zhang YX;  Liao ZY;  Sun Y;  Chen WX;  Zhao LJ;  Zhu HL;  Wang W;  Zhang, YX, Chinese Acad Sci, Key Lab Semicond Mat Sci, Inst Semicond, POB 912, Beijing 100083, Peoples R China.
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