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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: Characterization of parasitics from scattering parameters of laser diode
作者: Zhang, SJ;  Zhu, NH;  Liu, Y;  Liu, YZ
发表日期: 2008
摘要: A novel method for characterizing the parasitics of parasitic network is proposed based on the relations between the scattering parameters of a semiconductor laser chip and laser diode. Experiments are designed and performed using our method. The analysis results are in good agreement with the measurements. Furthermore, how the parasitics change with the parasitic element values are investigated. The method only needs reflection coefficient of laser diode to be measured, which is simple because of the developed electrical-domain measurement techniques. 2007 Wiley Periodicals, Inc.
KOS主题词: Semiconductor lasers;  System analysis
刊名: MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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Zhang, SJ ; Zhu, NH ; Liu, Y ; Liu, YZ .Characterization of parasitics from scattering parameters of laser diode ,MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS,2008 ,50(1): 1-4
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