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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: Investigation of GaSb epilayer grown on vicinal GaAs(001) substrate by high resolution x-ray diffraction
作者: Qiu, YX;  Li, MC;  Wang, YT;  Zhang, BS;  Wang, Y;  Liu, GJ;  Zhao, LC
发表日期: 2007
摘要: GaSb epilayers grown on GaAs(001) vicinal substrate misoriented towards (111) plane were studied using high-resolution x-ray diffraction (HRXRD). The results show that GaSb epilayers exhibit positive crystallographic tilt and the distribution of 60 degrees misfit dislocations (MDs) is imbalanced. The vicinal substrate also leads to the anisotropy of the mosaic structure, i.e. the lateral coherent lengths in [1 (1) over bar0] directions are larger than those in [110] directions. Furthermore, the full-width at half maximum (FWHM) of the off-axis peaks varies with the inclination angle, which is a result of different dislocation densities in the {111} glide planes.
KOS主题词: Photography--Films;  Finite volume method
刊名: PHYSICA SCRIPTA
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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Qiu, YX ; Li, MC ; Wang, YT ; Zhang, BS ; Wang, Y ; Liu, GJ ; Zhao, LC .Investigation of GaSb epilayer grown on vicinal GaAs(001) substrate by high resolution x-ray diffraction ,PHYSICA SCRIPTA,2007 ,T129(): 27-30
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