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SEMI OpenIR  > 中国科学院半导体研究所(2009年前)  > 期刊论文

题名: High-frequency characterization of packaging network in to-can photodiode modules
作者: Zhu, NH;  Wen, JM;  Zhang, SJ
发表日期: 2008
摘要: A simple method for analyzing the effects of TO packaging network on the high-frequency response of photodiode modules is presented. This method is established based on the relations of the scattering parameters of the packaging network, photodiode chip, and module. It is shown that the results obtained by this method agree well with those obtained by the conventional comparison method. The proposed method is much more convenient since only the electrical domain measurements are required. (C) 2008 Wiley Periodicals, Inc.
KOS主题词: equivalent circuits
刊名: MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS
专题: 中国科学院半导体研究所(2009年前)_期刊论文

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推荐引用方式:
Zhu, NH ; Wen, JM ; Zhang, SJ .High-frequency characterization of packaging network in to-can photodiode modules ,MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS,2008 ,50(5): 1219-1223
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