一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统
甘华东; 郑厚植; 孙宝权; 赵建华
2008-06-11
公开日期2009-06-04 ; 2009-06-11
专利类型发明
申请日期2006-12-07
语种中文
申请号200610164886
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/4071
专题中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
甘华东,郑厚植,孙宝权,等. 一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统[P]. 2008-06-11.
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