用于电调制光致发光光谱测量的样品架
丛光伟; 彭文琴; 吴洁君; 魏宏源; 刘祥林; 王占国
2006-07-05
公开日期2009-06-04 ; 2009-06-11
专利类型发明
申请日期2004-12-23
语种中文
申请号200410098998
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/3427
专题中国科学院半导体研究所(2009年前)
推荐引用方式
GB/T 7714
丛光伟,彭文琴,吴洁君,等. 用于电调制光致发光光谱测量的样品架[P]. 2006-07-05.
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