SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
电-声耦合对半导体器件可靠性的影响
肖遥
学位类型博士后
2023
学位授予单位中国科学院大学
学位授予地点中国科学院半导体研究所
语种中文
文献类型学位论文
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/31684
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
肖遥. 电-声耦合对半导体器件可靠性的影响[D]. 中国科学院半导体研究所. 中国科学院大学,2023.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
GK2023123-博士后_电子科学与技(1975KB)学位论文 限制开放CC BY-NC-SA请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[肖遥]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[肖遥]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[肖遥]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。