Knowledge Management System Of Institute of Semiconductors,CAS
| 无破坏性检测高电子迁移率晶体管外延材料性能的方法 | |
| 崔利杰; 曾一平; 王保强; 朱战平 | |
| 2004-10-06 | |
| 公开日期 | 2009-06-04 ; 2009-06-11 |
| 专利类型 | 发明 |
| 申请日期 | 2003-04-02 |
| 语种 | 中文 |
| 申请号 | CN03107705.6 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/2903 |
| 专题 | 中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 崔利杰,曾一平,王保强,等. 无破坏性检测高电子迁移率晶体管外延材料性能的方法[P]. 2004-10-06. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| 03107705.pdf（342KB） | 限制开放 | -- | 请求全文 | |||
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