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题名: Life prediction of 808nm high power semiconductor laser by accelerated life test of constant current stress
作者: Yao Nan;  Li Wei†;  Zhao Yihao;  Zhong Li;  Liu Suping;  Ma Xiaoyu
发表日期: 2016
刊名: SPIE Proceedings
专题: 光电子器件国家工程中心_期刊论文

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Life prediction of 808nm high power semiconductor laser by accelerated life test of constant current stress.pdf553KbAdobe PDF 联系获取全文


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Yao Nan; Li Wei†; Zhao Yihao; Zhong Li; Liu Suping; Ma Xiaoyu.Life prediction of 808nm high power semiconductor laser by accelerated life test of constant current stress.SPIE Proceedings,2016,9671:96710H-3
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