SEMI OpenIR  > 光电系统实验室
距离选通超分辨率三维成像距离图优化显示装置及方法
刘晓泉; 王新伟; 周燕; 刘育梁
专利权人中国科学院半导体所
公开日期2016-09-28
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2015-03-19
申请号CN201510121410.6
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27573
专题光电系统实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
刘晓泉,王新伟,周燕,等. 距离选通超分辨率三维成像距离图优化显示装置及方法.
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