SEMI OpenIR  > 固态光电信息技术实验室
一种半导体激光器静电失效分析方法
庞艺; 赵柏秦
专利权人中国科学院半导体所
公开日期2016-09-12
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2015-12-25
申请号CN201510996194.X
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27385
专题固态光电信息技术实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
庞艺,赵柏秦. 一种半导体激光器静电失效分析方法.
条目包含的文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
一种半导体激光器静电失效分析方法.pdf(469KB) 限制开放使用许可请求全文
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[庞艺]的文章
[赵柏秦]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[庞艺]的文章
[赵柏秦]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[庞艺]的文章
[赵柏秦]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。