SEMI OpenIR  > 光电子研究发展中心
半导体激光器工作温度测试校准夹具
王琪; 陈伟; 王孙龙; 王玮钰; 刘建国; 祝宁华
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2016-08-30
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2014-09-26
申请号CN201410503473.3
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/27301
专题光电子研究发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
王琪,陈伟,王孙龙,等. 半导体激光器工作温度测试校准夹具.
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半导体激光器工作温度测试校准夹具.pdf(480KB) 限制开放使用许可请求全文
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