SEMI OpenIR  > 光电系统实验室
一种拖曳式光纤温深剖面连续测量系统
王永杰; 卢宝莉; 戴兴; 刘元辉; 李芳; 刘育梁
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2014-04-30
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2014-01-22
申请号CN201410030644.5
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25872
专题光电系统实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
王永杰,卢宝莉,戴兴,等. 一种拖曳式光纤温深剖面连续测量系统.
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一种拖曳式光纤温深剖面连续测量系统.pd(1582KB) 限制开放使用许可请求全文
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