SEMI OpenIR  > 光电子研究发展中心
基于时间-频谱卷积原理的宽带射频信号相关检测方法
李明; 王辉; 祝宁华; 刘建国; 李伟; 王礼贤
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2013-09-25
授权国家中国
专利类型发明
学科领域光电子学
申请日期2013-05-24
申请号CN201310197022.7
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25597
专题光电子研究发展中心
推荐引用方式
GB/T 7714
李明,王辉,祝宁华,等. 基于时间-频谱卷积原理的宽带射频信号相关检测方法.
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基于时间-频谱卷积原理的宽带射频信号相关(343KB) 限制开放使用许可请求全文
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