SEMI OpenIR  > 纳米光电子实验室
一种聚合物分散液晶薄盒微位移传感器及其测量方法
耿红艳; 周州; 宋国峰; 徐云; 范志新
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2013-09-11
授权国家中国
专利类型发明
学科领域半导体材料
申请日期2013-05-30
申请号CN201310210118.2
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25589
专题纳米光电子实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
耿红艳,周州,宋国峰,等. 一种聚合物分散液晶薄盒微位移传感器及其测量方法.
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一种聚合物分散液晶薄盒微位移传感器及其测(445KB) 限制开放使用许可请求全文
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