SEMI OpenIR  > 中科院半导体照明研发中心
光源频闪测试装置
赵勇兵; 裴艳荣; 朱绍歆; 田婷; 郭金霞; 杨华; 伊晓燕; 王国宏; 李晋闽
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2014
授权国家中国
专利类型发明
学科领域半导体器件
申请日期2013-09-17
申请号CN201310424557.3
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25528
专题中科院半导体照明研发中心
推荐引用方式
GB/T 7714
赵勇兵,裴艳荣,朱绍歆,等. 光源频闪测试装置.
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