SEMI OpenIR  > 高速电路与神经网络实验室
基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法
张敏; 鲁华祥; 来疆亮; 边昳; 龚国良; 徐露露
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2013-12-11
授权国家中国
专利类型发明
学科领域人工智能
申请日期2013-08-16
申请号CN201310357352.8
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/25433
专题高速电路与神经网络实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
张敏,鲁华祥,来疆亮,等. 基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法.
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基于差影法的遥控器按键缺陷检测方法.pd(1911KB) 限制开放使用许可请求全文
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