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Si-C 相图的研究及碳对硅单晶质量的影响. | |
梁骏吾; 邓礼生; 郑红军 | |
1986 | |
Source Publication | 稀有金属
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Volume | 11Issue:5Pages:336-342 |
Subject Area | 光电子学 |
Language | 中文 |
Date Available | 2014-05-14 |
Document Type | 期刊论文 |
Identifier | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24942 |
Collection | 中国科学院半导体研究所(2009年前) |
Recommended Citation GB/T 7714 | 梁骏吾,邓礼生,郑红军. Si-C 相图的研究及碳对硅单晶质量的影响.[J]. 稀有金属,1986,11(5):336-342. |
APA | 梁骏吾,邓礼生,&郑红军.(1986).Si-C 相图的研究及碳对硅单晶质量的影响..稀有金属,11(5),336-342. |
MLA | 梁骏吾,et al."Si-C 相图的研究及碳对硅单晶质量的影响.".稀有金属 11.5(1986):336-342. |
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Si_C相图的研究及碳对硅单晶质量的影响(534KB) | 限制开放 | License | Application Full Text |
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