SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
共掺杂的硅基杂质中间带材料的制备方法; 共掺杂的硅基杂质中间带材料的制备方法
马志华; 左玉华; 薛春来; 成步文; 王启明; 郑世雄
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-09-09 ; 2012-09-09 ; 2012-09-09
授权国家中国
专利类型发明
摘要 一种共掺杂的硅基杂质中间带材料的制备方法,包括如下步骤:步骤1:取一硅片;步骤2:在硅片中注入Al;步骤3:将过渡性金属元素注入到含Al的硅片中;步骤4:将含有Al和过渡性金属元素的硅片进行退火处理,完成共掺杂的硅基杂质中间带材料的制备。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
语种中文
专利状态公开
申请号 CN201110102926.8
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23433
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
马志华,左玉华,薛春来,等. 共掺杂的硅基杂质中间带材料的制备方法, 共掺杂的硅基杂质中间带材料的制备方法.
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共掺杂的硅基杂质中间带材料的制备方法.p(271KB) 限制开放使用许可请求全文
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