SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
基于四波混频效应的光量化器; 基于四波混频效应的光量化器
刘建国; 杜渊鑫; 王礼贤; 祝宁华
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2012-09-09 ; 2012-09-09 ; 2012-09-09
授权国家中国
专利类型发明
摘要 一种基于四波混频效应的高速光量化器,包括:一第一光泵浦源、一第二光泵浦源和一采样光源;一高速微波电信号源的输出端与采样光源的输入端连接;一第一、第二和第三光放大器,其输入端分别与第一、第二光泵浦源和采样光源的输出端连接;一强度调制器的输入端与第三光放大器的输出端连接;一待测微波信号源的输出端与强度调制器的输入端连接;一第一偏振控制器、一第二偏振控制器和一第三偏振控制器,其输入端分别与第一光放大器、第二光放大器和强度调制器的输出端连接;一第一波导阵列光栅的输入端分别与第一、第二和第三偏振控制器的输出端连接;一非线性介质的输入端与第一波导阵列光栅的输出端连接;一第二波导阵列光栅的输入端与非线性介质的输出端连接;一并行高速光探测阵列的输入端与第二波导阵列光栅的输出端连接。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
语种中文
专利状态公开
申请号 CN201110351958.1
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23407
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
刘建国,杜渊鑫,王礼贤,等. 基于四波混频效应的光量化器, 基于四波混频效应的光量化器.
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