| 精确测量弱光纤光栅反射率的方法; 精确测量弱光纤光栅反射率的方法 |
| 徐团伟; 李芳; 刘育梁
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| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所
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| 公开日期 | 2012-09-07
; 2012-09-07
; 2012-09-07
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| 授权国家 | 中国
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| 专利类型 | 发明
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| 摘要 | 一种精确测量弱光纤光栅反射率的方法,该方法包括：步骤1：将宽带光源与3dB耦合器的端口1连接；步骤2：将3dB耦合器的端口2与弱光纤光栅一端连接；步骤3：将3dB耦合器的端口3与光谱仪连接；步骤4：切割光纤光栅的另一端,获得平整端面；步骤5：设置光谱仪的分辨率,光谱仪对弱光纤光栅进行波长扫描,获得弱光纤光栅的反射谱,根据光谱中反射峰的高度来计算弱光纤光栅的反射率。 |
| 部门归属 | 光电系统实验室
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| 申请日期 | 2011-09-08
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| 专利号 | CN102323042A
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| 语种 | 中文
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| 专利状态 | 公开
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| 申请号 | CN201110264452.7
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| 文献类型 | 专利
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| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/23374
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| 专题 | 光电系统实验室
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
徐团伟,李芳,刘育梁. 精确测量弱光纤光栅反射率的方法, 精确测量弱光纤光栅反射率的方法. CN102323042A.
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