SEMI OpenIR  > 光电系统实验室
数字化高精度相位检测器
何俊; 李芳; 刘育梁
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-31
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明公开了一种数字化高精度相位检测器,包括模数转换模块(10)、滤波器模块(20)、相位差计算模块(30)、相位修正模块(40)和相位检测结果存储及显示模块(50)。本发明提供的数字化高精度相位检测器,具有精度高、量程宽、频段宽、操作方便等优点,能工作于谐波环境。
部门归属光电系统实验室
专利号CN200910236386.5
语种中文
专利状态公开
申请号CN200910236386.5
专利代理人周国城
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22533
专题光电系统实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
何俊,李芳,刘育梁. 数字化高精度相位检测器. CN200910236386.5.
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