| 一种对半导体材料进行霍尔测试的装置 | |
| 李弋洋; 李成基; 曾一平 | |
| 专利权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 公开日期 | 2011-08-31 |
| 授权国家 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 摘要 | 本发明公开了一种对半导体材料进行霍尔测试的装置，该装置包括第一单刀双掷继电器(A)、第二单刀双掷继电器(B)、第三单刀双掷继电器(C)、第四单刀双掷继电器(D)、第五单刀双掷继电器(a)、第六单刀双掷继电器(b)、第七单刀双掷继电器(c)和第八单刀双掷继电器(d)。利用本发明，提高了测试的效率，最大限度的减少测试中人为操作带来的误差。 |
| 部门归属 | 半导体材料科学中心 |
| 专利号 | CN200910244534.8 |
| 语种 | 中文 |
| 专利状态 | 公开 |
| 申请号 | CN200910244534.8 |
| 专利代理人 | 周长兴 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22319 |
| 专题 | 半导体材料科学中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李弋洋,李成基,曾一平. 一种对半导体材料进行霍尔测试的装置. CN200910244534.8. |
| 条目包含的文件 | ||||||
| 文件名称/大小 | 文献类型 | 版本类型 | 开放类型 | 使用许可 | ||
| CN200910244534.8.pdf（925KB） | 限制开放 | -- | 请求全文 | |||
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