分布放大的取样光栅分布布拉格反射可调谐激光器结构
刘扬; 赵玲娟; 朱洪亮; 潘教青; 王圩
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-31
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种分布放大的取样光栅分布布拉格反射可调谐激光器结构,包括:一衬底;一n-InP缓冲层制作在衬底上;一InGaAsP下限制层制作在n-InP缓冲层上;一增益层制作在InGaAsP下限制层上;一InGaAsP上限制层制作在增益层上,其表面形成有取样光栅结构,该取样光栅光栅结构位于无源波导之上;一p-InP层制作在InGaAsP上限制层上;一p-InGaAsP刻蚀阻止层制作在p-InP层上;一上p-InP盖层制作在p-InGaAsP刻蚀阻止层上;一p-InGaAs接触层制作在上p-InP盖层上,其上形成有不同区段的隔离沟;一金属电极制作在p-InGaAs接触层的上表面,形成光栅分布布拉格反射可调谐激光器结构;其中该光栅分布布拉格反射可调谐激光器结构分为分布放大前取样光栅区、增益区、相区和分布放大的后取样光栅区。
部门归属中科院半导体材料科学重点实验室
专利号CN201010564545.7
语种中文
专利状态公开
申请号CN201010564545.7
专利代理人汤保平
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22177
专题中科院半导体材料科学重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
刘扬,赵玲娟,朱洪亮,等. 分布放大的取样光栅分布布拉格反射可调谐激光器结构. CN201010564545.7.
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