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采用离子注入制备非极性GaN基稀磁半导体材料的方法
孙莉莉; 闫发旺; 张会肖; 王军喜; 王国宏; 曾一平; 李晋闽
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-31
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明公开了一种制备非极性GaN基稀磁半导体材料的方法,该方法采用离子注入及后退火工艺实现非极性GaN基稀磁半导体材料的制备,包括以下步骤:对GaN基底材料进行离子注入;以及对离子注入后的GaN基底材料进行快速退火处理。利用本发明可以获得居里温度(Tc)高于室温的非极性GaN基稀磁半导体材料。非极性GaN基稀磁半导体材料具有独特的面内结构、光学、电学和磁学性质的各向异性分布特性。非极性GaN基稀磁半导体材料的高居里温度性质和独特的面内各向异性分布规律,使其在磁光、磁电等领域具有重要的应用价值。
部门归属中科院半导体照明研发中心
专利号CN201010201489.0
语种中文
专利状态公开
申请号CN201010201489.0
专利代理人周国城
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22141
专题中科院半导体照明研发中心
推荐引用方式
GB/T 7714
孙莉莉,闫发旺,张会肖,等. 采用离子注入制备非极性GaN基稀磁半导体材料的方法. CN201010201489.0.
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