SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
波长编码的光时域反射测试装置及其测量方法
祝宁华; 刘宇; 谢亮; 王欣; 袁海庆
Rights Holder中国科学院半导体研究所
Date Available2011-08-30
Country中国
Subtype发明
Abstract本发明公开了一种波长编码的光时域反射测试装置及其测量方法。装置包括光波长编码发生器、光纤分路装置、偏振控制器、光纤耦合器、光电探测器和拍频信号检测装置。光波长编码发生器产生的编码光脉冲信号从光纤分路装置的第一端口输入,分为探测光信号和参考光信号分别从光纤分路装置的第二端口和第三端口输出;探测光信号进入待测光纤链路中,遇到待测光纤链路的断点或损伤点后产生的反射光信号从第二端口返回光纤分路装置并从第四端口输出;反射光信号经过偏振控制器后与参考光信号一起通过光纤耦合器,进入光电探测器进行拍频,拍频低频信号进入拍频信号检测装置进行观测和记录。本发明解决了传统OTDR分辨率与动态范围无法同时提高的问题。
metadata_83集成光电子学国家重点实验室
Patent NumberCN200810240937.0
Language中文
Status公开
Application NumberCN200810240937.0
Patent Agent周国城
Document Type专利
Identifierhttp://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22075
Collection集成光电子学国家重点实验室
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GB/T 7714
祝宁华,刘宇,谢亮,等. 波长编码的光时域反射测试装置及其测量方法. CN200810240937.0.
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