SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
利用全反射角的改变进行传感的折射率传感方法
於丰; 阚强; 许兴胜; 王春霞; 刘宏伟; 陈弘达
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明公开了一种利用全反射角的改变进行传感的折射率传感方法,该方法包括:光从折射率为N的材料入射至折射率为n1的传感物质时,测出在不同入射角时的反射率,得到反射数据与曲线,其中N>n1;对反射率求角度微分,得到反射率角度微分数据与曲线,从反射率角度微分数据与曲线中提取出全反射角θ1;光从折射率为N的材料入射至折射率为n1+Δn的传感物质时,测出不同入射角时的反射率,得到反射数据与曲线,其中N>n1+Δn;对反射率求角度微分,得到反射率角度微分数据与曲线,从反射率角度微分数据与曲线中提取出全反射角θ2;根据公式Δn=N(sin(θ1)-sin(θ2))计算出折射率的变化。本发明实现起来简单,测试容易;能精确定出全反射角,提高了传感精度和灵敏度。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
专利号CN200810240936.6
语种中文
专利状态公开
申请号CN200810240936.6
专利代理人周国城
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22073
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
於丰,阚强,许兴胜,等. 利用全反射角的改变进行传感的折射率传感方法. CN200810240936.6.
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