SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
补偿式微位移传感光子集成芯片
祝宁华; 刘建国; 刘宇; 谢亮; 陈伟; 鞠昱; 孙可
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明公开了一种补偿式微位移传感光子集成芯片,该芯片由一个面发射激光器和至少二个谐振腔增强型光电探测器构成,其中,所述面发射激光器发出的激光照射到目标探测物表面,经目标探测物散射或反射后,被所述至少二个谐振腔增强型光电探测器接收,通过测量所述至少二个谐振腔增强型光电探测器探测到的光强变化来实现微位移传感。利用本发明,解决了垂直腔面发射激光器和两个谐振腔增强型光电探测器的单片集成问题,实现了补偿式反射测微。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
专利号CN200910241695.1
语种中文
专利状态公开
申请号CN200910241695.1
专利代理人周国城
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21995
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
祝宁华,刘建国,刘宇,等. 补偿式微位移传感光子集成芯片. CN200910241695.1.
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文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
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