SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
单模红外激光器光波长精确测量装置及测量方法
陈伟; 祝宁华; 刘建国; 谢亮
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要一种单模激光器波长精确测量装置,包括:一待测激光器;一外调制器,该外调制器的输入端与待测激光器的输出端通过光纤连接;该待测激光器的输出光经连接光纤被送入到调制器中;一微波驱动器,该微波驱动器的输入输出端分别与微波网络分析仪输出端和外调制器的微波输入端连接;一光纤环形腔,该光纤环形腔的输入端与外调制器的输出端连接;一光电探测器,该光电探测器的输入端与光纤环形腔的输出端连接;一温控装置;一微波网络分析仪,该微波网络分析仪的信号输出端口与微波驱动器的微波输入端连接;该微波网络分析仪的信号输入端与光电探测器的输出端连接。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
专利号CN200910244535.2
语种中文
专利状态公开
申请号CN200910244535.2
专利代理人汤保平
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21983
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
陈伟,祝宁华,刘建国,等. 单模红外激光器光波长精确测量装置及测量方法. CN200910244535.2.
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