SEMI OpenIR  > 集成光电子学国家重点实验室
一种紫外红外双色探测器及制作方法
刘宗顺; 赵德刚; 朱建军; 张书明; 王辉; 江德生; 杨辉
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明公开了一种紫外红外双色探测器及制作方法。该紫外红外双色探测器包括:一衬底,在该衬底上进行紫外红外双色探测器用材料结构的生长;一缓冲层,生长在衬底之上;一第一n型欧姆接触层,生长在缓冲层之上,用于欧姆接触;由相互交替生长的第一本征层与重掺杂n型层构成的多周期层;一第二n型欧姆接触层,生长在多周期层之上,部分区域作为n型欧姆接触电极用;一禁带宽度为Eg3的本征层,生长在第二n型欧姆接触层之上,且Eg3≤Eg2;一透明电极,形成于禁带宽度为Eg3的本征层之上;一上电极,形成于透明电极上一小区域;一中电极,形成于第二n型欧姆接触层的电极窗口;以及一下电极,形成于第一n型欧姆接触层的电极窗口。
部门归属集成光电子学国家重点实验室
专利号CN201010183403.6
语种中文
专利状态公开
申请号CN201010183403.6
专利代理人周国城
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21927
专题集成光电子学国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
刘宗顺,赵德刚,朱建军,等. 一种紫外红外双色探测器及制作方法. CN201010183403.6.
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