SEMI OpenIR  > 半导体超晶格国家重点实验室
一种多功能反射式磁光光谱测量系统
朱科; 朱汇; 刘剑; 章昊; 徐萍; 李桂荣; 郑厚植
专利权人中国科学院半导体研究所
公开日期2011-08-30
授权国家中国
专利类型发明
摘要本发明公开了一种多功能反射式磁光光谱测量系统,使用超连续白光光源、光栅单色仪、若干偏振镜片、光弹调制器、宽带1/4与1/2波片、消偏振分光棱镜(NPBS)、单端与差分探测器以及OXFORD低温超导磁体系统,组成结构灵活可变的光谱探测系统,可以在同一光路上实现反射式磁圆二向色性(MCD)、极向磁光克尔效应、偏振反射光谱以及磁线二向色性(MLD)的测量。该系统灵敏度高,可用于基础物理研究、材料特性分析和偏振调制光通信等诸多领域。
部门归属半导体超晶格国家重点实验室
专利号CN201010143096.9
语种中文
专利状态公开
申请号CN201010143096.9
专利代理人周国城
文献类型专利
条目标识符http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21835
专题半导体超晶格国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
朱科,朱汇,刘剑,等. 一种多功能反射式磁光光谱测量系统. CN201010143096.9.
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